на тему рефераты
 
Главная | Карта сайта
на тему рефераты
РАЗДЕЛЫ

на тему рефераты
ПАРТНЕРЫ

на тему рефераты
АЛФАВИТ
... А Б В Г Д Е Ж З И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Э Ю Я

на тему рефераты
ПОИСК
Введите фамилию автора:


Дипломная работа: Метрологические испытания измерительного микроскопа ТМ-500


Для индикации и регистрации результатов измерения используют стрелочные и цифровые приборы, осцилографы(7), самописцы(8), цифропечатающие машины, дисплей.

Для проведения испытаний при механических воздействиях: проверка на виброусточивость и проверка на вибропрочность использовался электродинамический вибростенд G 0232.

Преимущества электродинамических вибростендов:

-  широкий диапазон частот,

-  удобство и плавность регулирования вибрационных параметров,

линейность преобразования сигнала, возможность получения колебаний любой формы, универсальность воспроизведения требуемых программ испытаний.

Вибрации в электродинамическом вибростенде создаются в результате взаимодействия магнитного поля подвижной катушки с током и постоянного магнитного поля неподвижного электромагнита, в рабочем зазоре которого она расположена. Индукцию в рабочем зазоре можно регулировать постоянным током подмагничивания неподвижной катушки. Частота колебаний и характер измерения электродинамической силы зависит только от частоты и формы

кривой переменного тока, протекающего по подвижной катушке. Если этот ток синусоидальный, то колебания будут тоже синусоидальными, той же частоты, что частота тока.

Возбуждающую силу F определяют по формуле:

Dcp - средний диаметр кольца катушки

В - индукция в рабочем зазоре магнитной системы вибростенда

I max-амплитуда тока в подвижной катушке

W- число витков подвижной катушки

Виброускорение зависит от электродинамической силы и суммарной массы испытуемого изделия, подвижной системы и приспособления:


5. ПРОГРАММА ИСПЫТАНИЙ

измерительный микроскоп метрологический прибор

Для испытаний микроскопа измерительного разработана программа испытаний в соответствии с требованиями МИ 2146-95 «ГСИ. Порядок разработки и содержание программ испытаний средств измерений для целей утверждения их типа».

Программа предусматривает порядок проведения, объем и методику испытаний микроскопа.

В процессе испытаний программа может быть уточнена и дополнена.

ОАО «УРАЛаз» представляет на испытания ГЦИ СИ один образец микроскопа и комплект эксплуатационной документации в соответствии с ПР 50.2.009-94.

Испытания проводят с целью получения сертификата об утверждении типа средства измерений по форме приложения 2 ПР 50.2.00-94.

Программа испытаний для целей утверждения типа микроскопа измерительного ТМ-500

5.1 Рассмотрение технической документации

Рассмотрение технической документации должно проводиться в соответствии с указаниями, приведенными в таблице 2.

Таблица 2

Содержание требований по рассмотрению технической документации

Указания по методике рассмотрения

технической документации

1 2
1 Проверка соответствия представленной документации требованиям ПР 50.2.009-94

Комплектность технической документации должна соответствовать требованиям ПР 50.2.009-94.

Построение, изложение и оформление технической документации должно

соответствовать ГОСТ 2.114-95, ГОСТ 2.106-96, ГОСТ 2.601 - 95, МИ 2526-99
2 Анализ метрологических характеристик (МХ), полноты и способа их выражения в документации фирмы-изготовителя испытуемого СИ, а также документов, содержащих требования к нормированию метрологических характеристик. Провести анализ МХ прибора, их полноту, правильность и способа выражения в технической документации фирмы-изготовителя с учетом назначения и условий применения микроскопа на соответствие требованиям ГОСТ 8.009
3 Рассмотрение материалов ранее проведенных испытаний, в том числе протоколов испытаний. Оценивают достоверность, полноту и представительность материалов предварительных исследований. В случае положительных результатов их рассмотрения допускается по некоторым пунктам программы испытания не проводить.
4 Оценка необходимости изменения способа выражения МХ и разработки методик их определения, включая методики определения дополнительных погрешностей, которыми нельзя пренебречь при отсутствии информации о них в представленных НД. Оценивают необходимость изменения способа выражения МХ и разработки методик их определения, в том числе по оценке дополнительных погрешностей, по технической документации фирмы-изготовителя.
5 Оценка метрологического обеспечения эксплуатации испытуемого микроскопа

Оценивают обеспеченность прибора средствами поверки и НД при эксплуатации. При этом

- анализируют МХ известного метрологического оборудования и оценивают возможность его применения при испытаниях и поверке прибора с учетом конструктивной и иной совместимости прибора с метрологическим оборудованием;

- анализируют информацию об испытаниях импортного метрологического оборудования, если его использование предусмотрено проектом НД на методику поверки;

- анализируют соответствие НД на методику поверки требованиям соответствующих НД системы ГСИ.

6 Обоснование оптимального межповерочного интервала на основе сравнения межповерочных интервалов, установленных для отечественных и зарубежных аналогов, данных о надежности, данных по результатам периодической поверки и других данных. Рассматривают методики поверки на аналогичные приборы и обоснованность назначения межповерочного интервала прибора, сравнивая его с данными для отечественных и зарубежных аналогов, а также данные по надежности и периодичности поверки в эксплуатации.
7 Поверка наличия в эксплуатационной или другой документации указаний по настройке и устранению возможных неисправностей микроскопа. Проверить наличие в эксплуатационной или другой документации указаний по настройке и устранению возможных неисправностей микроскопа.
8 Проверка наличия и состояния контрольно-испытательной аппаратуры, используемой при испытаниях, на соответствие предъявляемым к ней требованиям, а также наличия документов последней ее поверки, калибровки или аттестации. Проверить наличие и состояние контрольно-испытательной аппаратуры, используемой при испытаниях, на соответствие предъявляемым к ней требованиям, а также наличие свидетельств о поверке или калибровке приборов, аттестатов на испытательное оборудование.

5.2 Испытание микроскопа

Порядок испытаний производятся в соответствии с таблицей 3.

Таблица 3

Наименование испытаний Методы и условия проведения испытаний (номера пунктов) Эталонные средства измерений, испытательное оборудование, их технические характеристики
1 2 3
1. Соответствие комплектности, маркировки, упаковки требованиям НД 5.1
2. Опробование 5.2
3. Поверка диапазона измерений и дискретности показаний 5.3
4. Определение отклонения от перпендикулярности направлений движения кареток при продольном и поперечном перемещениях стола. 5.4 Угольник поверочный типа УЛ-0-60 ГОСТ 3749-77
5. Определение предела допускаемого абсолютного отклонения показания микроскопа при измерении линейных размеров 5.5 Шкала стеклянная 2-го разряда ГОСТ 8.327-78 Концевая мера длины 4-го разряда размером 50мм МИ 2079-90
6. Определение вариации показаний 5.6 Шкала стеклянная 2-го разряда ГОСТ 8.327-78 Концевая мера длины 4-го разряда размером 50мм .
7. Определение абсолютного предела допускаемого абсолютного отклонения показания микроскопа при изменении температуры 5.7

Меры длины концевые плоскопараллельные 4 разряда ГОСТ 9038-90

Климатическая камера КТК 3000

8. Проверка сохранения характеристик микроскопа после механических воздействий 5.8

Меры длины концевые плоскопараллельные 4 разряда ГОСТ 9038-90

Вибростенд электродинамический G-0232

9. Проверка сохранения характеристик микроскопа после климатических воздействий 5.9

Меры длины концевые плоскопараллельные 4 разряда ГОСТ 9038-90

Климатическая камера КТК 3000

10.Проверка габаритных размеров 5.10

Рулетка измерительная металлическая Р3

ГОСТ 7502-89

11.Проверка массы 5.11 Весы для статического взвешивания НПВ-50-111 по ГОСТ 29329-92.
12.Опробование методики поверки Согласно МП По перечню, приведенному в МП

Методы и методика проведения испытаний

Соответствие микроскопа технической документации, комплектности, маркировке, упаковке проверяют внешним осмотром путем сличения с технической документацией.

Опробование.

При опробовании проверяют:

- перемещение предметного стола вдоль направляющих по оси Х и У с помощью винтов электронного микрометра. Предметный стол должен перемещаться свободно;

- перемещение визирного микроскопа вдоль колонки и фокусирования на контуры измеряемого изделия. Визирный микроскоп должен перемещаться по всей длине направляющей колонки плавно, и позволить получить резкое изображение контура измеряемого изделия.

- возможность фокусировать окуляра для настройки по глазу наблюдателя. Вращение диоптрийной наводки окуляра должно позволять фокусировать изображение прерванного перекрестия по глазу наблюдателя и получать резкое изображение;

- лампа подсветки предметного стола микроскопа при включении микроскопа должна освещать стол;

- работоспособность отсчетных устройств микроскопа (электронных микрометров). Цифровое изображение должно появляться при нажатии клавиши ON/OFF и исчезать при повторном ее нажатию при нажатии на клавишу ABS/INC должна обеспечиваться установка индикации на «нуль». При вращении винтов электронного микрометра цифры на блоках индикации микрометров должны изменяться. Нажатие клавиши «В» должно обеспечивать нормальный режим индикации: при выкручивании шпинделя микрометра должен производиться отсчет в положительном направлении; при выборе другого режима при таком движении на индикаторе должно высветиться «REV». Клавиша предварительной установки «Preset» должна обеспечивать установление начальной точки в соответствии с 2.9.1.инструкции по использованию №4769

Определение диапазона измерений и дискретности показаний

Проверка диапазона и дискретности показаний производится визуально, наблюдая изменение показаний при вращении винтов электронных микрометров.

Результаты испытаний считать положительными, если полученный результат имеет следующие значения: диапазон измерений в направлениях Х и У – (0…50)мм, дискретность показаний 0,001мм.

Определение отклонения от перпендикулярности направлений движения кареток при продольном и поперечном перемещениях стола производится с помощью поверочного угольника следующим образом:

Длинное ребро поверочного угольника, расположенного на рабочей поверхности стола микроскопа устанавливается параллельно направлению движения каретки стола. Проверить правильность установки, совместив перекрестие штриховой сетки с изображением ребра в начале и конце диапазона измерений. Отсчеты должны быть одинаковые. Совместить перекрестие штриховой сетки с изображением короткого ребра угольника, отступив 0,5мм от вершины и установить с помощью соответственной клавиши микрометра нулевое показание. Переместить каретку в поперечном направлении на длину 10мм, совместить перекрестие сетки с изображением короткого ребра угольника и взять отсчет (hизм).

Отклонения от перпендикулярности направлений движения каретки (Δh) вычисляется по формуле

Δh = 10 tgΔα + hизм

где Δα – отклонение угла лекального угольника от 90 , взятое из свидетельств на угольник.

Результаты испытаний считать положительными, если отклонение от перпендикулярности направлений движения каретки не превышает 0,003мм.

Определение предела допускаемого абсолютного отклонения показаний микроскопа при измерении линейных размеров производится в следующей последовательности:

Проверяется положение угломерной головки. Она должна находиться в положении нулевого угла.

Стол устанавливают в крайнее нулевое положение. На нем устанавливают параллельно продольному направлению перемещения шкалу. Совмещают отсчетный штрих микроскопа с одним из начальных штрихов шкалы и снимают показание.

Совмещают отсчетный штрих с делениями шкалы через 2мм и снимают показания.

Определяют полученные значения интервалов 0-2; 0-4; 0-6; 0-8; 0-10; 0-12 и 0-14 мм.

Повторяют операции по 6.5.2 при установке шкалы параллельно поперечному направлению перемещения стола.

Стол устанавливают в крайнее нулевое положение. На нем устанавливают концевую меру размером 50 мм длинной стороной параллельно продольному перемещению стола. Производят измерение длины меры. То же самое повторяют при установке длинной стороной параллельно поперечному перемещению стола.

Предел допускаемого абсолютного отклонения показаний микроскопа (А) вычисляется для каждого проверяемого интервала по формуле

А = Lизм – Lдейств

Где Lизм - полученное при измерении на микроскопе значение интервала;

Lдейств – действительное значение измеряемого интервала (взятое из свидетельства о поверке шкалы и концевой меры)

Результаты считать положительными, если наибольшее из полученных в п. 6.5.6 значений не превышает 0,005 мм.

Страницы: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9


на тему рефераты
НОВОСТИ на тему рефераты
на тему рефераты
ВХОД на тему рефераты
Логин:
Пароль:
регистрация
забыли пароль?

на тему рефераты    
на тему рефераты
ТЕГИ на тему рефераты

Рефераты бесплатно, реферат бесплатно, курсовые работы, реферат, доклады, рефераты, рефераты скачать, рефераты на тему, сочинения, курсовые, дипломы, научные работы и многое другое.


Copyright © 2012 г.
При использовании материалов - ссылка на сайт обязательна.