Доклад: Измерения оптоэлектронными многоканальными системами деталей с загрязнённой поверхностью
Доклад: Измерения оптоэлектронными многоканальными системами деталей с загрязнённой поверхностью
ПРОБЛЕМЫ И ПЕРСПЕКТИВЫ ПОВЫШЕНИЯ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ
ОПТОЭЛЕКТРОННЫМИ МНОГОКАНАЛЬНЫМИ СИСТЕМАМИ ДЕТАЛЕЙ С ЗАГРЯЗНЕННОЙ ПОВЕРХНОСТЬЮ.
Применение информационных
технологий как средство повышения качества выпускаемой продукции находит все
более широкое применение в машино- и станкостроении, особенно в области
контроля линейных и угловых размеров.
В настоящее время в области
применения оптоэлектронных средств контроля линейных и угловых размеров
актуальной является задача снижения погрешности измерения, вносимой наличием
пленки смазочно-охлаждающей жидкости на поверхности измеряемой детали. Без
качественной очистки поверхности измеряемой детали точность измерения может
быть неудовлетворительной. Качественная же очистка поверхности детали возможна
лишь в условиях метрологической лаборатории, в условиях автоматизированного
производства очистка каждой детали - трудоемкая или дорогостоящая операция,
значительно повышающая себестоимость изделия. Поэтому необходимо изыскание
способа измерения, который позволил бы контролировать параметры загрязненный
деталей с приемлемой точностью или сократить затраты на очистку деталей [1].
Погрешность измерения
оптоэлектронными многоканальными системами деталей с поверхностью, загрязненной
пленкой смазочно-охлаждающей жидкости, выражается в уменьшении амплитуды
отраженного от детали излучения вследствие поглощения в пленке смазочно-охлаждающей
жидкости. Предлагается два пути учета и снижения погрешности измерения от
наличия пленки смазочно-охлаждающей жидкости. Первый путь заключается в
организации измерений методом "опорный канал - измерительный канал",
второй заключается в анализе измерительной информации, полученной по одному
измерительному каналу.
Сущность первого способа снижения
погрешности заключается в том, что смазочно-охлаждающие жидкости на различных
длинах волн имеют существенно различающееся поглощение, поэтому подбором
значений длин волн опорного и измерительного каналов можно добиться появления
разности амплитуд сигналов опорного и измерительного каналов при наличии на
поверхности детали пленки смазочно-охлаждающей жидкости. Таким образом,
оптоэлектронная многоканальная система будет вырабатывать измерительную
информацию и о параметрах измеряемой детали, и о состоянии ее поверхности.
Разность амплитуд отраженного сигнала на опорном и измерительном каналах
пропорциональна толщине пленки смазочно-охлаждающей жидкости.
Сущность второго способа снижения
погрешности измерения от наличия пленки смазочно-охлаждающей жидкости на
поверхности детали заключается в анализе функции измерительного преобразования
датчика измерительного канала оптоэлектронной многоканальной системы. Например,
функция измерительного преобразования рефлектометрического оптрона при
измерении любых чистых участков детали неизменна и имеет холмообразный вид (с
единственной вершиной). При измерении участков детали, загрязненных пленкой
смазочно-охлаждающей жидкости вид функции качественно не меняется, но максимум
функции измерительного преобразования уменьшается вследствие поглощения
излучения пленкой смазочно-охлаждающей жидкости. В случае, если значение
максимума совпадает со значением максимума для эталонной детали (без пленки
смазочно-охлаждающей жидкости), то делают вывод о том, что поверхность детали
не загрязнена. Если же значение максимума функции измерительного преобразования
меньше, чем для эталонной детали, то делают вывод о том, что на поверхности
детали присутствует пленка смазочно-охлаждающей жидкости и измерение параметров
детали оптоэлектронной многоканальной системой будет вестись с погрешностью.
Оба способа снижения погрешности
являются составной частью специфической информационной технологии,
представляющей собой совокупность аппаратных средств (измерительные
преобразователи, спектрофотометр и компьютер) и программного обеспечения
(программы, анализирующие сигналы и спектры).
Таким образом, информационные
технологии заняли в производственном процессе место наравне с технологической
оснасткой и средствами измерения и по праву могут считаться полноценной
составной частью современного автоматизированного машиностроительного
производства.
ЛИТЕРАТУРА:
1. Васильев В.В., Телешевский В.И. Оптоэлектронные многоканальные измерительные
системы. // Вестник машиностроения, 1995, № 11, с. 51 - 53.
НОВОСТИ
ВХОД
ТЕГИ
Рефераты бесплатно, реферат бесплатно, курсовые работы, реферат, доклады, рефераты, рефераты скачать, рефераты на тему, сочинения, курсовые, дипломы, научные работы и многое другое.